信號完整性進階套件組 (ADK)

與S參數相關的作業皆可透過套件組完成

 
 
ADK 是一套可以將許多設計人員經常碰到的信號完整性問題簡化成單鍵處理的工具套件組，目前已由許多主要的硬體商所採用多年。透過 ADK， 新進人員可在一日內學會一個中階信號完整性工程師所能處理的問題。

例 1

ADK 可校正因果性的問題 (causality violation) 並重新輸出新的 Touchstone 檔案以便進行更佳的 channel simulation 及阻抗讀取。下圖為因果性校正前後之差異性。
 
 
例 2

將參數轉換成等效的 HSPICE 模型只需單鍵執行即可完成。單純地嘗試將non-causal的模型做曲線嵌合(curve-fitting)並無太大益處。而透過 ADK 的因果性校正將可確保嵌合後的模型在原來的頻率範圍外也同時有效。
 
 
例 3

從 S 參數到最佳化後的 TX FFE, RX CTLE, DFE 係數, 或NRZ, PAM4等眼圖生成亦只需單鍵執行即可完成。
 

 
例 4

您是否還透過共振器 (resonator) 來量測 DK 及 DF? ADK 可完成單鍵擷取 frequency-dependent 的 DK 及 DF, 其同時符合在多線的饋入損失 (insertion loss of multiple traces)下 causal 以及 self-consistent。